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2024年1月12日发(作者：加工中心编程代码大全)
什么是boundary scan?
边界扫描(Boundary scan )是一项测试技术，是在传统的在线测试不在适应大规模，高集成电路测试的情况下而提出的，就是在IC设计的过程中在IC的内部逻辑和每个器件引脚间放置移位寄存器(shift register).每个移位寄存器叫做一个CELL。这些CELL准许你去控制和观察每个输入/输出引脚的状态。当这些CELL连在一起就形成了一个数据寄存器链(data
register chain),我门叫它边界寄存器(boundaryregister)。除了上面的移位寄存器外，在IC上还集成测试访问端口控制器 (TAP controller),指令寄存器(Instruction register)对边界扫描的指令进行解码以便执行各种测试功能。旁路寄存器(bypass register)提供一个最短的测试通路。另外可能还会有IDCODE register和其它符合标准的用户特殊寄存器。
下图是一个典型的具有边界扫描功能的IC。
边界扫描器件典型特征及边界扫描测试信号的构成。
如果一个器件是边界扫描器件它一定有下面5个信号中的前四个：
1．TDI (测试数据输入)
2．TDO (侧试数据输出)
3．TMS (测试模式选择输入)
4．TCK (测试时钟输入)
5．TRST (测试复位输入，这个信号是可选的)
测试访问端口控制器(TAP controller)
TMS，TCK，TRST构成了边界扫描的测试访问端口控制器(TAP controller)。TAP (the test access port)是一个通用的端口，用来引入控制信号到边界扫描器件(TCK,TMS,TRST*)并且为边界扫描提供串行的输入，输出信号(TDI,TDO)TAP controller是一个16位的状态机，可以通过TMS(test mode selection)和TCK(test clock input)对TAP controller进行编程控制它的状态，TAP controller控制进入指令寄存器(instruction register)和数据寄存器(data register)数据流。TAP controller是边界扫描器件的控制中心。边界扫描测试的每个环节都由它来控制，所以要对TAP controller有一个比较清楚的了解。指令寄存器(instruction register)对要执行的指令进行译码。同时它还选择那些测试数据寄存器将被访问。
数据寄存器(data register)
包括边界寄存器(boundary scan register)和旁路寄存器(bypass register)。每个边界扫描器件都包括这两种寄存器。其它可选的寄存器包括身份寄存器(identification register)和设计者指定的数据寄存器 (designer-specified data registers)。
测试时钟输入(TCK)
测试时钟输入为逻辑测试提供时钟信号。TCK是一个独立的输入端口，准许独立于器件指定的系统时钟来使用串行测试数据。
测试模式选择(TMS)
在测试时钟的上升沿，设置测试模式选择信号的状态使TAP CONTROLLER从一个状态移动到另一个状态，通过TAP CONTROLLER可以轮流移动数据和指令。
测试数据输入(TDI)
测试数据输入为测试指令移入和测试数据移入提供串行输入。在测试时钟(TCK)的上升沿数据被移入指定的寄存器。
测试数据输出(TDO)
测试数据输出为测试指令和数据的移出提供串行输出。在测试时钟(TCK)的下降沿被选择的寄存器的内容从TDO串行的移出。
测试复位(TRST*)
这是一个可选的信号输入，用来异步复位TAP CONTROLLER。TRST*将边界扫描器件置于正常的工作状态，边界寄存器处于停止状态(inactive state)。
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