admin 管理员组

文章数量: 887021

文章目录

  • DVT是什么
  • 测试适用范围
  • 可靠性测试环境及设备
  • 智能硬件可靠性测试方法

DVT是什么

DVT是设计样品验证测试评审阶段，这个阶段要进行全面的，客观的测试，
主要测试项目包括：功能测试，安规测试，性能测试，合规测试（兼容性），机械测试（跌落、震动等），可靠性测试（重复稳定性）等。
这里介绍机械测试与可靠性测试的详细步骤，

测试适用范围

目录产品是一款电子产品，带喇叭，屏，摄像头，NFC，电池，IMC，灯等，这里介绍的可靠性测试方法适用于带此硬件的设备，包括但不限于智能音箱，早教机，手机，平板，手表等．

可靠性测试环境及设备

  1. 高低温测试设备
    要求空间能放下等测产品，温度范围一般能达到-20到150度，这里只需要-20到60．
    设备示例如图（图片来源自网上）
  2. 防水测试设备
    需要一个专门的测试房用于做防水等级测试，不同的防水等级要做不同的测试．
    如图（图片来源网上）
  3. 静电发生器
    静电发生器主要是产生静电，输出通常是单一极性，如为正或负极性，输出电压可以调节.

智能硬件可靠性测试方法

Col1Col2Col3Col4Col5Col6
测试项目 (test items)样品数量 (sample qty)测试条件(test condition)判断标准
电性能测试(electronical performance test)
1老化测试20PCS环境温度40℃，开机后进入老化测试，播放100小时试验中及试验后，机器工作正常，各功能工作无异常，不发生死机，暂停、卡顿等异常现象，能正常开关机，NFC功能正常，无错误播报提示，整机温度正常，呼吸灯效果符合要求，摄像头效果符合要求，显示屏显示效果符合要求，MIC录音效果符合要求，音质符合要求。
环境测试(environment test)
1低温存储2PCS温度-20℃，在关机情况下，放置24小时1）所有功能都正常  LCD 显示正常，无花色或变色现象  能正常开机和关机  外观无变形裂纹  结构无开裂或破损  按键弹性敏捷度正常  金属部件无生锈现象  表面喷漆无脱落 2） 射频测试OK； 3） 拆机检查结构0K；重点检查 螺母柱、结构组件强度；
2高温存储2PCS温度60℃，在关机情况下，放置24小时1）所有功能都正常  LCD 显示正常，无花色或变色现象  能正常开机和关机  外观无变形裂纹  结构无开裂或破损  按键弹性敏捷度正常  金属部件无生锈现象  表面喷漆无龟裂、脱落； 2） 射频测试0K； 3） 拆机检查结构0K；重点检查 螺母柱、结构组件强度；
3冷热冲击2PCS低温为-20℃，稳定温度保持时间1h；高温为60C，稳定温度保持时间1h； 转换时间<5分钟；循环次数为12次共24小时； 关机存放24小时，试验后，放置2h，检查被测样机，开机以及 其它功能正常1） 功能、外观测试0K； 2） 射频测试0K； 3） 拆机检查结构0K；重点检查 螺母柱、结构组件强度；
4高温高湿2PCS关机在温度达到40℃±2，湿度达到95%环境下放置48小时1）所有功能都正常  LCD显示正常，无花色或变色现象  能正常开机和关机  外观无变形裂纹  结构无开裂或破损  按键弹性敏捷度正常  金属部件无生锈现象  表面喷漆无脱落； 2） 射频测试0K； 3） 拆机检查结构0K；重点检查 螺母柱、结构组件强度；
5高温工作2PCS环境温度50℃，适配器接入，开机进入老化测试，播放8小时1） 射频测试0K； 2） 功能测试0K；
6低温工作2PCS环境温度-10℃，适配器接入，开机后进入老化测试，播放8小时通过基本功能测试；外观和结 构正常
7低温充电测试2PCS温度-10℃，在关机情况下，充电6小时1. 6h内能正常充电，且能显示充电完成，且电池电压4.10≥V≥3.90V，则判定OK；（具体时间可根据电池容量大小更改） 2. 6h内能正常充电，但不能显示充电完成，取出机器在常温下恢复10min后测试电池电压值，再在常温下恢复1h后，在常温下进行充电并充满，并记录电压值。然后将两个电压值进行对比，若比率≥97%（低温充电电压值除于常温充满电电压值）则判定合格，否则判定为不合格。（具体时间可根据电池容量大小更改）
8高温充电测试2PCS在环境温度50℃下，在关机情况下，使用原配的Type C线直接接到 Type C口，充电6小时1. 6h内能正常充电，且能显示充电完成，且电池电压≥4.0V，则判定OK；（具体时间可根据电池容量大小更改） 2. 6h内能正常充电，但不能显示充电完成，取出机器在常温下恢复10min后测试电池电压值，再在常温下恢复1h后，在常温下进行充电并充满，并记录电压值。然后将两个电压值进行对比，若比率≥97%（高温充电电压值除于常温充满电电压值）则判定合格，否则判定为不合格。（充电具体时间可根据电池容量大小更改）
常温充电测试常温环境下，机身和底座同时插着充电，持续7天
振动粉尘2PCS测试7~50HZ采用定幅1.5 mm，50~200HZ定加速度5g X,Y,Z轴各1小时测试后进行外观检查，不允许有材料损伤（裂纹）以及结构开裂等不正常的现象，进行主观音频评测，不允许喇叭和麦克风有功能退化,不允许LCD/前，后摄像头有大面积进粉尘。（轻微进粉尘是允许的）；按键/侧键功能及手感正常，拆开DOME片后本体及FPC（硬板）应没有沙尘。
模拟运输测试(Simulation of Transport test)
1定向跌落4PCS1) 开机，跌落地面为大理石； 2) 自由跌落顺序：1角6面，角：选取任意一角，面跌落顺序：底面→左面→右面→正面→背面→顶面 ； 3) 跌落2个循环，每个循环检验1次功能、外观，全部跌完拆壳检验； 4) 跌落高度1.0米；1） 功能、外观测试OK； 2） 射频测试OK； 3） 对接地点阻止测量；
2软压测试2PCS用25N的力压屏幕，每次保持4秒，200次机器结构、开关机、充电、显示、触摸屏、通话、音乐、MMI等机械电气功能正常。（每次检查的变形量都小于1mm，同时无功能失效，最大变形区域无焊点、器件开焊等故障，只记录不判问题）
3微跌测试2PCS测试方法：样机处于开机状态，做10厘米的微跌落实验，正反面各跌落 200次1） 功能、外观测试0K；注意掉 键不良； 2） 射频测试0K； 3）对于掉电次数：跌落次数0-1000，掉电次数平均/最大≤2/5.跌落次数1000-3000.掉电次数平均/最大≤5/10
插拔试验2pcsUSB插座每次插入至少保持2秒，每500次进行一次功能及结构检查，共5000次试验。样品试验后，结构不出现异常，样品开机后功能无异常。
按键寿命试验2PCS各功能键 100000(5N-7N)样机按键弹性及功能正常
USB座推力2pcs用推力计与USB口约呈30°-45°，从元件边边宽去推，力≥40N，保护30秒样品试验后，结构不出现异常，样品开机后功能无异常。
包装振动试验2pcs试验方法：按正常包装装好且数量已装满的整箱，振动类型为正弦振动，箱体底面着地放置，振动时间为2H，振动设定为： 5～100Hz at 0.1 octave/min 加速度 ：0.5g peak 100～500Hz at 0.25 octave/min 加速度 ：1.5g peak1) 试验后，要求产品外观及各项性能指标正常； 2) 内装的填充物、支撑物和密封袋等包装器材无失效； 3) 内装产品不允许漏出或容器破损； 4) 外包装允许有不影响在继续流通过程中防护能力的轻度损伤。
包装自由跌落试验2pcs对中箱进行1个角、3条棱和6个面的跌落试验；每个指定的面、角和棱各跌落1次； 设包装重量为M（KG)，则跌落高度h(米）分别设置为： M＜15时，h=1.0m； 15≤M＜30时，h=0.8m； 30≤M＜40，h=0.6m； 40≤M＜45，h=0.5m； 45≤M＜50，h=0.4m； 50≤M＜100，h=0.3m；1) 试验后，要求产品外观及各项性能指标正常； 2) 中箱允许不影响运输保护的破损（破损长度<5cm），允许适当的变形。不允许机能上的损伤 3) 彩盒允许不影响运输保护的破损（数据卡B、C、C1类包装<0.5cm，数据卡A类包装<1cm，其它终端产品包装<1cm。），允许适当的变形。不允许机能上的损伤。 4) 彩盒的缓冲材料(内包装盒、填充物、支撑物、密封袋等)应无变形、允许小量的不可恢复的压痕、折痕和破裂。(破损长度<0.5cm) 5) 内装物品没有出现影响包装效果的位置改变。
Mechanical reliability testing
1静电ESD抗扰度试验2PCS测试环境温度：15ºC~35ºC，环境湿度： 30%RH~60%HR ，大气压力：68~106KPa ，实验室中的电磁环境应不影响测试结果；测试时要求样机处于开机、充电、通话状态 验证验证LCD、模块、受话器、蜂鸣器、充电器等部品的静电放电抗扰度能力.评价机器在生产、存放及流通过程中遭受静电放电时的抗干扰性能，分别选择±4kV(接触放电)、±6kV ±8kV（空气放电）。对机器指定部位连续放电10次，每2秒放电一次，每打一次需对地放电一次测试标准：试验样品无功能降级故障（如通话质量下降，MP3音质降低，摄相图片画面降级）、无硬故障（用户不可自行恢复的损坏，如无功能或功能降级）。可恢复的软故障（不含死机、重启、自动关机、白屏、花屏、无声音、屏显倒等用户可察觉的软故障）允许10次中有1次。样机出现功能暂时性（失效时间大于3秒）或永久性失效（故障不恢复）判为不合格。样机出现屏闪或3秒内可自行恢复之故障判为合格。
Other testing
温升测试2units测试机器数量：2台 测试方法参考标准《GB8898-2011》 试验前将电量用光，然后充5分钟后（避免低电量关机），然后插着电播放 1.在常温环境下，开机播放内置老化信号 2.在40℃高温环境下,开机播放内置老化信号
防水测试2units在防水测试房中测试
充放电试验2 units充电方法： 1.使用原配线充 放电方法： 老化使用下进行放电
作者:帅得不敢出门　原创文章谢绝转载收录

本文标签： 事机 可靠性 平板 阶段 硬件

版权声明：本文标题：故事机手机平板等智能硬件DVT阶段可靠性测试方法 内容由网友自发贡献，该文观点仅代表作者本人， 转载请联系作者并注明出处：http://www.freenas.com.cn/jishu/1725911727h891443.html， 本站仅提供信息存储空间服务，不拥有所有权，不承担相关法律责任。如发现本站有涉嫌抄袭侵权/违法违规的内容，一经查实，本站将立刻删除。